3D金絲鍵合和Micro LED檢測設(shè)備
發(fā)布時間:2023-07-19 10:04:27 分類: 新聞中心 瀏覽量:18
3D Wafer Bump(晶元錫焊)、Wire Bonding(引線鍵合)AOI檢測系統(tǒng)
高精度3D Wafer(晶元)檢測精密解析度配置可實(shí)現(xiàn)針對Foot形態(tài)元件的整體檢測
可直接檢測鏡面元件,避免反光問題
奔創(chuàng)特有的3D技術(shù) 實(shí)現(xiàn)元件的精準(zhǔn)3D成型,機(jī)器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測。
支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案
AOI + SPI 混合檢測系統(tǒng)
深圳市托普科實(shí)業(yè)有限公司專注為電子制造商提供如下SMT設(shè)備:
INOTIS印刷機(jī)、 奔創(chuàng) PEMTRON SPI
松下貼片機(jī) 、富士貼片機(jī) 、西門子貼片機(jī)
奔創(chuàng) PEMTRON AOI、Heller回流焊
等整條SMT生產(chǎn)線設(shè)備,以及零配件、服務(wù)和解決方案。